| автор: | Sherman G. W. Bradley C. C. |
| источник: | APPLIED OPTICS |
| заглавие: | Interferometric laser diode probing of micrometer- and nanometer-scale materials |
| год издания: | 2003 |
| том: | 42 |
| выпуск: | 31 |
| страницы: | 6360-6366 |
| ссылка на полный текст: | http://dx.doi.org/10.1364/AO.42.006360 |
| рубрика: | FO4.2.1 |
| Автор записи: | admin |
| Дата/время последнего изменения: | 2011-12-05 14:30:03 |
Вы не можете изменять эту запись.