| автор: | Yasui T. Mizutani Y. Iwata T. Uemura H. |
| источник: | OPTICS EXPRESS |
| заглавие: | Double-modulation reflection-type terahertz ellipsometer for measuring the thickness of a thin paint coating |
| год издания: | 2014 |
| том: | 22 |
| выпуск: | 17 |
| страницы: | 20595-20606 |
| ссылка на полный текст: | http://dx.doi.org/10.1364/OE.22.020595 |
| рубрика: | FO4.2.4 |
| Автор записи: | admin |
| Дата/время последнего изменения: | 2019-11-28 00:20:53 |
Вы не можете изменять эту запись.