| автор: | Laporta P. Tonelli M. Galzerano G. Svelto C. Toncelli A. Sani E. Pesatori A. Norgia M. Bonelli L. |
| источник: | IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT |
| заглавие: | Characterization of single-frequency Yb : KYF(4) lasers at 1.03 mu m for optical frequency metrology |
| год издания: | 2008 |
| том: | 57 |
| выпуск: | 8 |
| страницы: | 1713-1717 |
| ссылка на полный текст: | http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2008.925717 |
| рубрика: | FO4.2.2 |
| Автор записи: | admin |
| Дата/время последнего изменения: | 2011-12-05 14:30:03 |
Вы не можете изменять эту запись.